1 J65120B 阻抗测试系统
简介：
1 J65120B 最先进技术(DDS & DSP)，可量测SMD零组件，内建 PC，RF高频零件分析仪，超高速量测，触控式人机界面，Meter mode/ Analysis mode，共振频率扫频功能by meter mode or Analysis mode，6500是WayneKerr使用最新的技术研发出的新产品。
技术参数：
•6500B 系列有直流偏流源跟直流偏流电压
•DC Bias Current
–100mA of DC biascurrent, 40V DC Bias(选配 D1)
–200mA~2 Amp DC bias(订作型订单)
•DC Bias Voltage
–+/-40V of DC bias voltage (Option D2)
•量测模式设定:
参数设定Parameter setting
驱动位准Drive level
自动位准控制ALC selection
串联/并联Series/parallel
•扫频参数:
水平轴刻度(log/lin)
两条独立垂直线(log/lin)
•扫频曲线自 动对位Auto Fit on traces
•曲线的标志Marker on traces
寻找 低点Find Dip
寻找 高点Find Peak
最高可使用8个标志Markers available
•波形放大/缩小 功能 可分析每条曲线.
•使用者最多可定义15条曲線,及相对应曲线的颜色设定达15条之多.
•测式扫频可做曲线合并或分开测试功能.
•提供5种常用的等效电路
主要用途：
电容量量测，电感量量测，阻抗值 (AC)量测，材料分析，电介质量测，细胞,蛋白质,血糖, RFID,隐形飞机薄膜,压电材料等。