阻抗测试系统

发布时间:2015-09-10浏览次数:44

1 J65120B 阻抗测试系统

  

简介:

1 J65120B 最先进技术(DDS & DSP)可量测SMD零组件内建 PCRF高频零件分析仪超高速量测触控式人机界面Meter mode/ Analysis mode共振频率扫频功能by meter mode or Analysis mode6500WayneKerr使用最新的技术研发出的新产品。

技术参数:

6500B 系列有直流偏流源跟直流偏流电压

DC Bias Current

100mA of DC biascurrent, 40V DC Bias(选配 D1)

200mA~2 Amp DC bias(订作型订单)

DC Bias Voltage

+/-40V of DC bias voltage (Option D2)

量测模式设定:

参数设定Parameter setting

驱动位准Drive level

自动位准控制ALC selection

串联/并联Series/parallel

扫频参数:

水平轴刻度(log/lin)

两条独立垂直线(log/lin)

扫频曲线自 动对位Auto Fit on traces

曲线的标志Marker on traces

寻找 低点Find Dip

寻找 高点Find Peak

最高可使用8个标志Markers available

波形放大/缩小 功能 可分析每条曲线.

使用者最多可定义15条曲,及相对应曲线的颜色设定达15条之多.

测式扫频可做曲线合并或分开测试功能.

提供5种常用的等效电路

主要用途:

电容量量测电感量量测,阻抗值 (AC)量测,材料分析,电介质量测细胞,蛋白质,血糖, RFID,隐形飞机薄膜,压电材料等。